日本spectra USB簡易膜厚測量裝置測厚儀

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更新日期：2024-03-23

簡要描述：

日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness
由于光照射在透明或半透明的薄膜上，并且根據(jù)光的光譜信息計算薄膜厚度，因此作為一種在不損壞樣品的情況下具有良好再現(xiàn)性的測量方法而備受關(guān)注。

詳細介紹

品牌	其他品牌	類型	數(shù)字式
測量范圍	1	產(chǎn)地	進口

日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness

由于光照射在透明或半透明的薄膜上，并且根據(jù)光的光譜信息計算薄膜厚度，因此作為一種在不損壞樣品的情況下具有良好再現(xiàn)性的測量方法而備受關(guān)注。
由于樣品是用光纖照射的，因此可以從任何位置在線使用。
當(dāng)與致動器結(jié)合使用時，也可以進行簡單的映射膜厚度測量。

可測量樣品

影片
硅、氮化硅、氧化硅
粘合劑、涂料
染料膜、油膜、彩色濾膜
空氣層
光刻膠
介電膜、金屬氧化膜
紫外光固化樹脂
砷化鎵
光盤、中藥、光盤
聚合體

不可測量的樣品

涂膜
金屬膜

日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness

各型號的產(chǎn)品規(guī)格

型	方便的λII.厚度	實心氧厚度
測量膜厚度范圍	50納米-20微米	50納米-100微米
薄膜厚度顯示分辨率	0.001微米	0.001微米
測量重復(fù)性	0.01μm以下	0.01μm以下
接口	USB2.0	USB2.0

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